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详细说明

梅特勒 分析天平 XPR36

稳定性十分出色,可快速获取微量结果.不同寻常的微量天平称量能力,一次即准的称量结果。量程:32 g; 可读性为0.001 mg; 出色的称重传感器; 集成方法; 称量结果记事本; 2个防风罩 悬挂式秤盘; 一步加样 LabX兼容

微量样品一步加样

凭借出色的称量传感器、较高的量程和出色的稳定性,只需一步即可将微量样品直接加入去皮重容器中。

一次即准的称量结果

通过整合StatusLight™、LevelControl与GWP Approved协同工作,确保获得的称量结果准确无误且经过审核验证。

利用StaticDetect™避免隐藏错误

当在样品和容器上检测到静电荷时,将发出警告。可选的去静电装置能在数秒内自动消除电荷。


品牌
梅特勒
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商品说明

利用LabX轻松确保数据完整性

LabX在屏幕上提供用户指南并自动将称量结果和元数据保存在安全数据库中,确保数据的可追溯性、完整性,使其符合21 CFR Part 11的要求。用户、仪器和任务可实现集中管理。

智能化功能提高生产效率

电容式触摸屏幕可让您用手指滑动选择设置、应用和方法。您的任务方法可以存储在方法库中并快速访问。这样可以节省时间,并提供更高的过程安全性。

轻松无误地处理数据

在您执行任务时,您的结果和任务参数会自动记录在内置的结果记事本上。可通过直接传输或USB闪存盘将数据快速轻松地发送至PC或软件应用程序。

智能设计确保用户安全

防风罩具有很宽的检修空间、充分的可视性和无接触门操作,简化了加样,最大限度地减少了溢出和交叉污染。SmartView显示操作终端可使显示操作终端远离潜在污染物。

易于清洁

只需几个简单步骤,即可取出、清洁并更换防风罩和秤盘的所有部件。不存在有可能夹住样品材料的边角,全方位的可视性有助于确保彻底清洁。

受益于我们的称量专有技术

我们的免费GWP® Recommendation可确保您拥有合适的称量天平。凭借多年的称量专业知识,我们可以在天平选择、安装、清洁、常规测试、校准和维护方面为您提供支持。

控制最小加样量

我们的服务包括安装与认证、校准、维护与常规测试,以确保您的天平适用并符合行业标准与法规要求。定制服务包以满足您的确切需求。

 

 


商品参数

规格 - 分析天平 XPR36

最大秤量
32 g
可读性
0.001 mg
重复性(典型)
0.0007 mg
最小称量值(符合USP,允差为0.1%,典型)
1.4 mg
稳定时间
3.5 s
校正
内部(全自动/FACT)
接口
RS232(集成式/选件)
USB-A(连接至设备)
USB-B(连接至设备)
以太网 (LAN)
蓝牙(可选)
用户管理
密码保护
用户数量不受限制
用户权限
认证
外形尺寸 (高x宽x深)
292 mm x 195 mm x 485 mm
线性误差(典型)±
0.012 mg
秤盘尺寸 (宽x深)
40 mm x 40 mm
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有价值的样品
合规性选项
密码保护
数据完整性
日志历史(基本元数据)
日志历史(符合21 CFR第11部分的规定)
认证天平
天平系列
XPR
天平型号
微量天平
特点
密码保护
支持21 CFR Part 11(兼容LabX)
水平向导
用户管理
自动门
自动静电检测
推荐行业
制药
化工
文档选项
基本电子文档
打印
自动文档记录(符合21 CFR第11部分的规定)
自动静电检测
价格
$$$
微量天平型
微量分析天平
系列
超越系列
等级
卓越
符合21 CFR第11部分的称量规定
自动化选件
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